介質損(sǔn)耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化(huà)物(wù),板(bǎn)材(cái),瓷器(陶器),雲母,玻(bō)璃(lí),塑料等(děng)物(wù)質的一(yī)項(xiàng)重(zhòng)要的物理性質(zhì)。通(tōng)過測(cè)定(dìng)可進一步了(liǎo)解(jiě)影響介質損耗和(hé)介電(diàn)常(cháng)數的各種(zhǒng)因素,為提高材料的性(xìng)能提供依據。
該介(jiè)電常數測試儀用於(yú)科研機關,學(xué)校(xiào),工廠(chǎng)等(děng)單位(wèi)對無(wú)機(jī)金屬(shǔ)新材料(liào)性能的(dí)應用研究。
GB/T 1409-2006 測量(liáng)電(diàn)氣(qì)絕(jué)緣材(cái)料(liào)在(zài)工頻,音(yīn)頻(pín),高頻(包括(kuò)米(mǐ)波波長存內)下電容率(shuài)和介質損耗(hào)因數(shù)的(dí)推(tuī)薦方(fāng)法(fǎ)
GB/T 1693-2007 硫(liú)化橡膠 介電常數(shù)和介(jiè)質損(sǔn)耗角正切(qiē)值(zhí)的(dí)測(cè)定方(fāng)法
ASTM-D150-介(jiè)電常數測(cè)試方(fāng)法
GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻(bō)璃高(gāo)頻(pín)介(jiè)質(zhì)損耗(hào)和介電常數的(dí)測(cè)試方(fāng)法
測(cè)量範(fàn)圍(wéi)廣,采(cǎi)樣(yàng)精(jīng)度(dù)高,符合(hé)多標準(zhǔn),多(duō)參數顯(xiǎn)示,操(cāo)作簡單(dān)。
DDS數字(zì)合(hé)成信(xìn)號源(yuán),自動扣除(chú)電感(gǎn),自動(dòng)掃描諧振(zhèn)點(diǎn)。
LCD屏(píng)幕(mù)可顯示F,L,C,Q,Lt,Ct等(děng)參數(shù),大電(diàn)容值直接測量顯(xiǎn)示,數顯微(wēi)測量裝(zhuāng)置(zhì),直接(jiē)讀值(zhí)。
| 信(xìn)號源 | DDS數字(zì)合成(chéng) 100KHZ-160MHZ |
| 采樣(yàng)精度(dù) | 11BIT |
| 測量(liáng)範(fàn)圍(wéi) | 1-1000自動/手動量程(chéng) |
| 分辨率(shuài) | 0.1 |
| 測量(liáng)工(gōng)作誤(wù)差 | <5% |
| 電(diàn)感測量(liáng)範(fàn)圍 | 分辨(biàn)率(shuài) 0.1nH |
| 電感(gǎn)測量誤(wù)差 | <3% |
| 調諧電(diàn)容 | 主(zhǔ)電容(róng) 30-540pF |
| 電容(róng)直接測量範圍 | 1pF~2.5uF |
| 調諧電容(róng)誤(wù)差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
| 諧(xié)振點搜索 | 自動(dòng)掃描 |
| 合格(gé)預(yù)置範(fàn)圍 | 5-1000聲(shēng)光提示 |
| LCD顯(xiǎn)示(shì)參數(shù) | F,L,C,Q,Lt,Ct等 |
| 介(jiè)質(zhì)損耗係(xì)數精度 | 萬(wàn)分(fēn)之(zhī)一(yī) |
| 介電常數(shù)精(jīng)度(dù) | 千(qiān)分之一(yī) |
| 材料(liào)測試厚度 | 0.1mm-10mm |
| 獨(dú)有(yǒu)技術 | 儀(yí)器自動(dòng)扣除殘餘(yú)電感(gǎn)和測試(shì)引(yǐn)綫電感(gǎn)。大幅提高(gāo)測量精(jīng)度(dù)。大(dà)電(diàn)容(róng)值(zhí)直接測量(liáng)顯示。數(shù)顯微測量裝(zhuāng)置(zhì),直(zhí)接讀值(zhí)。 |